HAST非飽和高壓加速試驗機壓力蒸煮鍋試驗(PCT)結構：試驗箱由一個(gè)壓力容器組成，壓力容器包括一個(gè)能産生（潤濕）環(huán)境的水加熱器，待測品經(jīng)過(guò)PCT試驗所出現的不同失效可能是大量水氣凝結滲透所造成的。
HAST非飽和高壓加速試驗機常見(jiàn)失效時(shí)期：
   早期失效期(早夭期，InfantMortalityRegion)：不夠完善的生産、存在缺陷的材料、不合適的環(huán)境、不夠完善的設計。
隨機失效期(正常期，UsefulLifeRegion)：外部震蕩、誤用、環(huán)境條件的變化波動(dòng)、不良抗壓性能。
   退化失效期(損耗期，WearoutRegion)：氧化、疲勞老化、性能退化、腐蝕。
   說(shuō)明：HAST非飽和高壓加速試驗機又稱(chēng)PCT試驗一般稱(chēng)為壓力鍋蒸煮試驗或是飽和蒸汽試驗，主要是將待測品置于嚴苛之溫度、飽和濕度(R.H.)[飽和水蒸氣]及壓力環(huán)境下測試，測試代測品耐高濕能力，針對印刷線(xiàn)路板(PCB&FPC)，用來(lái)進(jìn)行材料吸濕率試驗、高壓蒸煮試驗..等試驗目的，如果待測品是半導體的話(huà)，則用來(lái)測試半導體封裝之抗濕氣能力，待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測試，如果半導體封裝的不好，濕氣會(huì )沿者膠體或膠體與導線(xiàn)架之介面滲入封裝體之中，常見(jiàn)的故裝原因：爆米花效應、動(dòng)金屬化區域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路..等相關(guān)問(wèn)題。
   澡盆曲線(xiàn)：澡盆曲線(xiàn)(Bathtubcurve、失效時(shí)期)，又用稱(chēng)為浴缸曲線(xiàn)、微笑曲線(xiàn)，主要是顯示產(chǎn)品的于不同時(shí)期的失效率，主要包含早夭期(早期失效期)、正常期(隨機失效期)、損耗期(退化失效期)，以環(huán)境試驗的可靠度試驗箱來(lái)說(shuō)得話(huà)，可以分爲篩選試驗、加速壽命試驗(耐久性試驗)及失效率試驗等。進(jìn)行可靠性試驗時(shí)"試驗設計"、"試驗執行"及"試驗分析"應作爲一個(gè)整體來(lái)綜合考慮。

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