針對IC半導更具有競爭力的"溫度變化試驗箱"
溫度變化試驗箱（）具有較寬的溫度控制范圍，可滿(mǎn)足用戶(hù)的各種實(shí)驗溫度需要，采用平衡調溫方式，穩定、平衡的加熱及降溫能力，可控精度高、穩定性好。
溫度變化試驗箱又稱(chēng)加速LED老化壽命試驗箱時(shí)間均智能可調。相關(guān)測試參數可根據用戶(hù)需要自由設定，從而實(shí)現LED額定要作條件下的常規老化試驗和過(guò)載沖擊條件下的加速老化試驗。系統具有可靠性好、調節方便、壽命長(cháng)等優(yōu)點(diǎn)，是LED老化試驗的先。
【老化試驗風(fēng)扇設備】
產(chǎn)品的質(zhì)量控制是一個(gè)公司能否長(cháng)久發(fā)展的重要因素，為了達到滿(mǎn)意的合格率，產(chǎn)品在出廠(chǎng)前都需先經(jīng)過(guò)老化。在產(chǎn)線(xiàn)上如何才能夠在不縮減老化時(shí)間的條件下提高其效率？并對進(jìn)行過(guò)老化測試的產(chǎn)品的測試信息形成可追索文檔。本文介紹在老化過(guò)程中進(jìn)行功能測試的新方案，在老化測試的同時(shí)進(jìn)行功能測試，并監測產(chǎn)品的測試條件和產(chǎn)品的輸入輸出參數。
老化就是通過(guò)讓半導體進(jìn)行超負荷工作而使缺陷在短時(shí)間內出現，避免在使用早期發(fā)生故障。在半導體業(yè)界，器件的老化問(wèn)題一直存在各種爭論。半導體隨時(shí)可能因為各種原因而出現故障，如果不經(jīng)過(guò)老化，很多半導體成品由于器件和制造工藝復雜性等原因在使用中會(huì )產(chǎn)生很多問(wèn)題。在開(kāi)始使用后的幾小時(shí)到幾天之內出現的缺陷稱(chēng)為早期故障，老化之后的器件基本上要求通過(guò)這段時(shí)間。準確確定老化時(shí)間的方法是參照以前收集到的老化故障及故障分析統計數據。
本系統用于大批量小型風(fēng)扇煲機測試，采集煲機過(guò)程中的風(fēng)扇運行的電流、電壓、轉速及電流的波形，形成測試過(guò)程數據，用于監控分析產(chǎn)品質(zhì)量。
【led及半導體燈具測試】
led及半導體燈具系統是根據客戶(hù)的新要求結合現場(chǎng)實(shí)際，由我公司自主研發(fā)設計的一種新型多功能的led及半導體燈具。適用于各種型號的路燈、應急燈、球泡燈、射燈及洗墻燈等的老化和壽命測試；步入式溫度變化試驗艙操作簡(jiǎn)單方便，性能穩定可靠，擴展自由，為您分析產(chǎn)品性能、查找產(chǎn)品缺陷、提升產(chǎn)品質(zhì)量提供強有力的數據支撐。
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