半導體器件高低溫試驗箱，控制器操作界面設中英文可供選擇，實(shí)時(shí)運轉曲線(xiàn)圖可由屏幕顯示，具有100組程式、每組100段、每段可循環(huán)999步驟的容量，每段時(shí)間設定大值為99小時(shí)59分，資料及試驗條件輸入后，控制器具有熒屏鎖定功能，避免人為觸摸而停機，具有RS-232或RS-485通訊界面，可在電腦上設計程式，監視試驗過(guò)程并執行自動(dòng)開(kāi)關(guān)機、數據等功能控制器。

高低溫試驗箱技術(shù)指標：

型 號     工作室尺寸（mm）  外箱尺寸（mm）

HL-80     400*500*400     950*1650*950

HL-150    500*600*500    1050*1750*1050

HL-225    600*750*500    1200*1900*1150

HL-408    600*800*850    1200*1950*1350

HL-800    1000*1000*800  1600*2000*1450

HL-1000   1000*1000*1000  1600*2100*1450

溫度范圍:A型:25℃～150℃；B型:0℃～150℃；C型:-20℃～150℃；D型:-40℃～150℃；E型:-60℃～150℃；F型:-70℃～150℃ 

溫度范圍：-40℃～+80℃

升溫時(shí)間：-40℃～+80℃≤20分鐘；

降溫時(shí)間：+80℃～-40℃≤20分鐘；

溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃

溫度偏差：≤±2℃

注：以上性能指標是在設備周?chē)h(huán)境溫度為25℃±5℃,空載條件下測的數據。

高低溫試驗箱控制系統：

◆溫濕度顯示控制儀表采用熒幕操作簡(jiǎn)單，無(wú)須按鍵輸入，精度：0.1℃(顯示范圍)，解析度：±0.1℃；

◆風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設計，風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測試標準，并可使開(kāi)門(mén)瞬間溫度回穩時(shí)間快。

◆升溫、降溫、系統獨立可提高 效率，降低測試成本，增長(cháng)壽命，減低故障率。

◆整體設備超溫；整體設備欠相/逆相；整體設備過(guò)載；制冷機組超壓；整體設備定時(shí)；

◆其它還有漏電、運行指示，故障報警后自動(dòng)停機等保護。

◆具有熒屏自動(dòng)屏保功能，在運轉或設定中，如發(fā)生錯誤時(shí)，會(huì )提供警示迅號。

◆制冷機采用法國原裝“泰康"全封閉壓縮機。

◆干燥過(guò)濾器、冷媒流量視窗、修理閥、油分離器、電磁閥、貯液筒均采用進(jìn)口原裝件

◆冷凍系統采用單元或二元式低溫回路系統設計。

◆采用多翼式送風(fēng)機強力送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，可使測試區域內溫度分布均勻。

高低溫試驗箱特點(diǎn)：

1、試驗系統結構設計先進(jìn)合理，制造工藝規范，外觀(guān)美觀(guān)、大方,維護保養方便。

2、零部件的配套與組裝匹配性好，主要功能元器件均采用具有先進(jìn)水平的進(jìn)口件，提高了產(chǎn)品的安全性和可靠性，能保證用戶(hù)長(cháng)時(shí)間、高頻率的使用要求。

3、設備正常運行所需的附帶條件已有配備，買(mǎi)方只需提供動(dòng)力電力和滿(mǎn)足要求的工作環(huán)境即可。

高低溫試驗箱標準：

1、GB10592.2-1989高低溫試驗箱技術(shù)條件

2、GB11158-1989高溫試驗箱技術(shù)條件

3、GB105589-1989低溫試驗箱技術(shù)條件

4、GB/T2423.1-2001(IEC68-2-1)試驗A低溫試驗方法

5、GB/T2423.2-2001(IEC68-2-2)試驗B高溫試驗方法

6、GJB150.3-1986高溫試驗

7、GJB150.4-1986低溫試驗

8、GB2423.22溫度變化試驗方法

半導體器件高低溫試驗箱介紹：

高低溫試驗箱又名高低溫循環(huán)試驗箱，采用計算機技術(shù)、先進(jìn)的PID控制方法對環(huán)境溫度、濕度進(jìn)行測量和控制，并可以與恒溫恒濕設備配套使用。高低溫試驗箱是根據國家相關(guān)標準設計制造，廣泛適用于航空、航天、軍工、艦船、電工、電子及材料等行業(yè)的產(chǎn)品整機及零部件的高低溫試驗及溫度快速變化試驗。以便對試品的性能和品質(zhì)作出評價(jià)。